檢測存在于礦石試樣中的金剛石
關(guān)鍵詞 檢測 , 礦石試樣 , 金剛石 |2010-12-09 00:00:00|行業(yè)專利|來源 中國超硬材料網(wǎng)
摘要 名稱檢測存在于礦石試樣中的金剛石公開號1083214公開日1994.03.02主分類號G01N23/083 
名稱 |
檢測存在于礦石試樣中的金剛石 |
公開號 |
1083214 |
公開日 |
1994.03.02 |
主分類號 |
G01N23/083 |
分類號 |
G01N23/083;G01N21/59 |
申請?zhí)?/strong> |
93108276.5 |
分案原申請?zhí)?/strong> |
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申請日 |
1993.06.03 |
頒證日 |
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優(yōu)先權(quán) |
[32]1992.6.3[33]GB[31]9211734.0 |
申請人 |
森桑企業(yè) |
地址 |
列支敦士登瓦杜茲 |
發(fā)明人 |
M·-L·龍尼; J·G·C·史密夫; M·P·史密夫 |
國際申請 |
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國際公布 |
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進(jìn)入國家日期 |
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專利代理機(jī)構(gòu) |
中國專利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
程天正; 張志醒 |
摘要 |
為了能在勘探時(shí)準(zhǔn)確而簡單地檢測出金剛面,可將巖面試樣破碎成粉末顆粒,并用處理透射過顆粒薄層的X射線的圖象的方式,來自動地識別出粉末顆粒中是否含有金剛石顆粒(30)??捎脤⑦@一圖象與透射過顆粒薄層的另一幅可見光的圖象進(jìn)行比較的方式來處理圖象。 |
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